Лазерный микроскоп OLIMPUS OLS LEXT 4100

Микроскоп является метрологической системой, которая впервые среди лазерных конфокалов имеет характеристики, подтверждающие ее и точность и воспроизводимость. Встроенная виброзащитная рама. Уникальная сканирующая система (scanner-on-scanner) с технологией «двойная пиноль» позволяет измерять образцы с наклоном до 85°. Система работает в светлом поле, поляризованном свете и цветном ДИК. Есть 3 режима лазерного сканирования. Самое высокое разрешение на сегодняшний день среди подобных сканирующих микроскопов (по горизонтали до 120 нм, по вертикали до 10 нм!). Общий диапазон увеличений, в зависимости от используемых объективов от 50 до 17280 крат. Неразрушающие 2D и 3D измерения объекта в режиме реального времени. Моторизованный ультразвуковой безлюфтовый столик 100х100мм, позволяющий установить крупный образец, высотой до 100мм. Высокая скорость сканирования. Автоматическая фильтрация шумов. Автоматическая обработка и анализ изображения, измерение высот, дистанций, площадей, объемов, анализа частиц линейной и плоскостной шероховатости, определение края и др.